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簡(jiǎn)要描述：上海儀電物光粉塵形貌分散度測(cè)試儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)相結(jié)合，由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像機(jī)、觸摸式電腦和顆粒圖像處理分析軟件組成。
產(chǎn)品型號(hào)：WKL-722/728廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商 更新時(shí)間：2025-07-02訪 問(wèn) 量：835 產(chǎn)品資料:相關(guān)文章
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上海儀電物光粉塵形貌分散度測(cè)試儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)相結(jié)合，由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像機(jī)、觸摸式電腦和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過(guò)專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦，通過(guò)專用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析處理，具有直觀、形象、快速和測(cè)量范圍寬等特點(diǎn)。
1、圖像多種處理方法：影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)、自動(dòng)分割等幾十種功能。
2、可直接對(duì)粉塵粒徑的大小、形狀、周長(zhǎng)、面積以及分布均勻狀況等各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行計(jì)算分析，并按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)將粒徑分布定義為四個(gè)區(qū)域，即：≤2um、2um～5um、5 um～10um、>10um，直接輸出檢測(cè)報(bào)告，也可以根據(jù)用戶要求進(jìn)行自定義分級(jí)。其操作方法簡(jiǎn)單、實(shí)用、快捷。
3、通過(guò)先進(jìn)的攝像技術(shù)，不僅可以保持粉塵顆粒的原型，而且在對(duì)重疊粉塵的處理方法上，也采用了先進(jìn)的圖像分割技術(shù)。
4、滿足疾控GB Z/T192.3-2007，工作場(chǎng)所空氣中粉塵測(cè)定，粉塵分散度檢測(cè)的要求。
上海儀電物光粉塵形貌分散度測(cè)試儀
| 儀器型號(hào) | WKL-722 | WKL-728 |
| 測(cè)量范圍 | 0.1~3000(微米) | |
| 總放大倍數(shù) | 8000倍 | |
| 最大分辨率 | 0.1微米/像素 | |
| 重復(fù)性 | 誤差≤±1% | |
| 自動(dòng)分割速度 | ≤1秒，分割成功率≥99% | |
| 分割成功率 | ≥99% | |
| 數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD) | 500萬(wàn)像素 | |
| 數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 | 電腦需另配(i3處理器+16G內(nèi)存+純固態(tài)或雙硬盤及以上配置) | 一體機(jī)(128G固態(tài)硬盤，15寸液晶顯示器) |
| 通信接口 | USB | USB/網(wǎng)線/無(wú)線網(wǎng) |
| 操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10/11系統(tǒng)均可 | 自帶 |
| 電源 | AC220V±10% 50Hz 200W | |
| 儀器尺寸 | 270mmX410mmX440mm | 625mmX420mmX435mm |
| 儀器凈重 | 15kg | 25kg |
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